中圖儀器CEM3000系列納米尺度觀測掃描電子顯微鏡用于對樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測和分析。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值，標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng)，能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求，實(shí)現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。

CEM3000系列納米尺度觀測掃描電子顯微鏡憑借其簡便的操作系統(tǒng)，讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。樣品一鍵裝入，自動導(dǎo)航和一鍵出圖能力（自動聚焦+自動消像散+自動亮度對比度）幫助用戶在短短幾十秒內(nèi)就可獲取高清圖像，大大提升了使用效率。

產(chǎn)品功能

1.高分辨率，滿足用戶觀測需求；

2.快速抽放氣，縮短等待時間；

3.高易用性

可快速成像，一鍵成片；

4.多種成像參數(shù)

滿足專業(yè)用戶的調(diào)節(jié)需求；

5.高抗振防磁性能

強(qiáng)抗干擾能力；

6.可選配低真空模式，保證用戶能夠根據(jù)需要設(shè)定電鏡樣品倉內(nèi)真空度，進(jìn)而對不同類型的樣品進(jìn)行觀測。

7.大樣品倉

SEM3000A在保證較小外形尺寸同時，具有比肩立式電鏡的大倉室，從而容納更大尺寸樣品；

8.多探測器

可實(shí)現(xiàn)四分窗同時掃描成像。

性能特色

1.高易用性快速成像、一鍵成片，無需過多人工調(diào)節(jié)。

2.超高分辨率優(yōu)于4nm(SE)，優(yōu)于8nm(BSE)@20kV。

3.超大景深毫米級別景深，具有高空間分辨率。

4.多探測器可實(shí)現(xiàn)四分窗同時掃描成像。

5.抗振性能優(yōu)異。

機(jī)型選擇

CEM3000A（大樣品倉型）：70mm×70mm樣品倉，兼容大尺寸或多樣品批量分析。

CEM3000B（抗振型）：專為振動環(huán)境設(shè)計(jì)，抽氣更快（低真空僅40秒），成像更穩(wěn)定。

應(yīng)用場景

材料科學(xué)：納米材料（如60nm銀線）、高熵合金粉末、氧化鋅等微觀結(jié)構(gòu)分析。

新能源：太陽能電池板缺陷檢測、涂層性能評估。

生物醫(yī)療：微流控芯片表面形貌觀測、藥物載體研究。

工業(yè)質(zhì)檢：錫球顆粒焊接質(zhì)量、精密器件表面粗糙度檢測。

部分技術(shù)指標(biāo)

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