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中圖國產光學輪廓儀SuperViewW系列基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

SJ5800中圖表面粗糙度測量儀具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍，分辨率高達到0.1nm，系統殘差小于3nm。操作靈活、智能、簡單，輪廓和粗糙度一體測量，無需切換模塊。

SuperViewW系列光學3D形貌測量輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

SJ5800中圖粗糙度輪廓度儀器儀采用超高精度納米衍射光學測量系統、超高直線度研磨級摩擦導軌、高性能直流伺服驅動系統、高性能計算機控制系統技術，一次測量掃描后，在同一個界面顯示粗糙度評價結果與輪廓分析結果。

SJ5800大量程一體型粗糙度輪廓儀具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍，專業測試軸承內外側。分辨率高達到0.1nm，系統殘差小于3nm。與配套軟件測量軸承滾道，輪廓和粗糙度一體測量，無需切換模塊。一次測量掃描后，在同一個界面顯示粗糙度評價結果與輪廓分析結果。

SuperViewW高精度3D表面光學輪廓儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。它具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。